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產(chǎn)品中心光學(xué)測量儀器顯微OCT掃頻測振/磁光克爾
product
產(chǎn)品分類
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAM/RTAMR評估系統(tǒng)( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產(chǎn)品總覽 產(chǎn)生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質(zhì)（HAMR或TAMR）非接觸評估系統(tǒng)。
更新時間：2025-02-25
產(chǎn)品型號：BH-802HM
瀏覽量：1508
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學(xué) 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振） 產(chǎn)品總覽 三維無損成像技術(shù)在材料科學(xué)和醫(yī)學(xué)等許多應(yīng)用領(lǐng)域都非常重要。我們開發(fā)了一種成像技術(shù)，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結(jié)構(gòu)。
更新時間：2024-12-08產(chǎn)品型號：瀏覽量：1794
軟磁層評價系統(tǒng) BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產(chǎn)品總覽 軟磁層的非接觸式評估系統(tǒng)，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質(zhì)中的 SUL。
更新時間：2025-02-25產(chǎn)品型號：BH-618HS-P20-780瀏覽量：1446
垂直磁記錄介質(zhì)評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產(chǎn)品總覽 具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質(zhì)（PMR）非接觸評估系統(tǒng)。
更新時間：2025-02-25產(chǎn)品型號：瀏覽量：1435
克爾環(huán)路測量和域觀測系統(tǒng) BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 用于動態(tài)（實時）磁疇觀測和顯微克爾環(huán)測量的組合系統(tǒng)。
更新時間：2025-02-25產(chǎn)品型號：BH-1071-650瀏覽量：1236