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產(chǎn)品中心
光學測量儀器
顯微OCT掃頻測振/磁光克爾
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產(chǎn)品分類掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析(顯微OCT)) 掃描開爾文探頭可以測量 CPD(接觸電位差)值,評估半導體和導電材料的功函數(shù)。測量不僅可以在樣品表面的單點進行,還可以對整個表面進行掃描。 功函數(shù)測量在半導體物理學中te別有用,因為它提供了被測材料費米級的位置。
更新時間:2025-11-11
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更新時間:2024-12-05
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