ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView XD是一款高度先進(jìn)的干涉儀，用于精確測(cè)量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專(zhuān)門(mén)為生產(chǎn)線(xiàn)設(shè)計(jì)的，在生產(chǎn)線(xiàn)中需要簡(jiǎn)單、快速和非常準(zhǔn)確的端面檢測(cè)。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護(hù)目的。

產(chǎn)品型號(hào)：IF-12-01001

更新時(shí)間：2025-02-27

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

訪(fǎng)問(wèn)量：1626

產(chǎn)品咨詢(xún) 18602170419

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產(chǎn)品分類(lèi)

光纖/光纖器件/光纖處理

光纖研磨拋光/切割剝離器光纖加工/傳感/邊拋/微納光纖熔融拉錐機(jī)系統(tǒng) 跳線(xiàn)/連接器/光纖束/光纜其它光纖器件 MFA光纖模場(chǎng)(模式)匹配器光纖光柵(FBG)器件偏振(PZ)光纖光子晶體光纖（PCF）高非線(xiàn)性光纖(HNLF) 金屬化光纖無(wú)源光纖摻雜光纖（有源光纖）特種光纖中紅外光纖

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品牌	筱曉光子	價(jià)格區(qū)間	面議
組件類(lèi)別	其他	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,電氣,綜合

ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）

ProView XD是一款高度先進(jìn)的干涉儀，用于精確測(cè)量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專(zhuān)門(mén)為生產(chǎn)線(xiàn)設(shè)計(jì)的，在生產(chǎn)線(xiàn)中需要簡(jiǎn)單、快速和非常準(zhǔn)確的端面檢測(cè)。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護(hù)目的。在許多情況下，干涉條紋圖案可以非常復(fù)雜地進(jìn)行分析和理解。為了便于使用和優(yōu)化檢查速度，ProView XD包括高度先進(jìn)的全自動(dòng)功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。軟件會(huì)自動(dòng)指示端面的半徑和角度。為了進(jìn)一步簡(jiǎn)化檢查過(guò)程，ProView XD可以設(shè)置為“通過(guò)/未通過(guò)"模式。此功能允許操作員通過(guò)圖像上的顏色代碼簡(jiǎn)單地確定端面質(zhì)量。除了角度和半徑檢查外，ProView XD還可用于測(cè)量其他一些特性，如光纖直徑和定義點(diǎn)之間的距離等。ProView XD-用于連接器，提供預(yù)裝支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80連接器支架。還有一個(gè)可選的通用v形槽夾具組件可用于檢查裸光纖。可根據(jù)需要提供定制的支架或夾具。ProView XD設(shè)計(jì)緊湊，是生產(chǎn)臺(tái)的理想選擇，可與切割機(jī)、拋光臺(tái)、超聲波清潔器和其他準(zhǔn)備工具并排使用。ProView XD通過(guò)USB 3.0電纜連接并供電，由外部PC（不包括在內(nèi)）托管。

ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）

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