通用參數(shù)

1、AgGaS2 硫鎵銀晶體

AgGaS2簡稱AGS晶體,中文名是硫鎵銀晶體,他的透光波段為0.53至12 µm。雖然其非線性光學系數(shù)在上述提到的紅外晶體中是最小的，但是其邊緣為550 nm短波長高透光度被用于Nd:YAG激光泵浦的OPO，也被大量應用于利用二極管、摻鈦藍寶石、Nd:YAG和紅外燃料激光器進行的差頻混頻實驗，直接紅外對抗系統(tǒng)，以及CO2激光倍頻。通過信號和飛秒OPO系統(tǒng)駐波的差頻，硫鎵銀晶體薄片在中紅外波段超短脈沖發(fā)生方面用的很普遍。

14 mm長鍍增透膜和用于被Nd:YAG激光泵浦的OPO的AgGaS2晶體的透過光譜

AgGaS2晶體1型 OPO 和SHG調(diào)諧曲線

2、ZnGeP2晶體(簡稱ZGP晶體),磷鍺鋅晶體

ZnGeP2磷鍺鋅晶體的透光波段為0.74至12 µm，其中有用的透光范圍從1.9至10.6 µm。 ZnGeP2擁有最大的非線性光學系數(shù)和較高的激光損傷閾值。它成功地應用于以下應用領(lǐng)域：

■ 通過與10.6 µm 波長混頻的 CO2激光的上轉(zhuǎn)換；

■ CO和 CO2 激光輻射的和頻；

■ 脈沖式CO、CO2 和DF化學激光的高效倍頻；餌和鈥激光泵浦時的中紅外OPO光的發(fā)生。

E K S M A 光 學 提 供 具 有 低 吸 收<0.04 cm-1 @ 2.1 µm的ZnGeP2 晶體，更好的適應OPO或OPA應用，然后泵浦2.05-2.1 µm，鍍增透膜。

ZnGeP2晶體1型OPO和SHG調(diào)諧曲線

ZnGeP2晶體在2 µm附近的吸收光譜

15 mm長鍍增透膜ZnGeP2晶體OPO@2.1 µm 的透過光譜

3、AgGaSe2 硒鎵銀晶體

AgGaSe2硒鎵銀晶體晶體的透光波段在0.73至18 µm波段之間。其有用透光范圍0.9-16 µm及寬的相匹配能力，在被多種當前常用激光泵浦時，能為OPO應用提供具潛力的應用。在2.05 µm的Ho:YLF激光泵浦下，已經(jīng)獲得2.5-12 µm的波長，以及在1.4-1.55 µm激光泵浦下，獲得1.9-5.5 µm的非臨界相位匹配操作。脈沖式CO2激光的高效倍頻已經(jīng)得到證明。

AgGaSe2晶體1型OPO和SHG調(diào)諧曲線

18 mm長無鍍膜AgGaSe2晶體的透過光譜

25 mm長鍍增透膜的AgGaSe2晶體的透過光譜

4、GaSe硒化鎵

GaSe 硒化鎵晶體 的 透 光 波 長 在 0 . 6 5 至18 µm之間. GaSe晶體已經(jīng)成功的應用于以下方面：CO2 激光的高效倍頻，脈沖式CO、CO2和DF化學 激光(λ = 2.36 µm)倍頻，CO和CO2激光向可見光的上轉(zhuǎn)換，通過釹和紅外燃料激光器或(F-)-centre激光脈沖的差頻混頻產(chǎn)生紅外脈沖，3.5–18 µm范圍內(nèi) OPG光的發(fā)生，飛秒脈沖泵浦時0.2-5 THz范圍的高效太赫茲發(fā)生。由于材料結(jié)構(gòu)(沿(001)平面切開)限制了應用領(lǐng)域，為了得到特定相位匹配角的晶體切割是不可能的。

物理特性：

光學特性：

非線性光學特性：

熱學特性：

@ 293-573 K, b) @ 573-873 K, c) @ 298-423 K, d) @ 423-873 K

計算折射率的SELLMEIER方程:

可以根據(jù)客戶要求提供的其它晶體有： CdSe, CdS, CdZnTe, CdTe, ZnSe, ZnS

ZnTe/碲化鋅:

碲化鋅晶體在<110>方向被用于通過光整流過程來產(chǎn)生太赫茲。光整流效應是晶體的二階非線性光學效應，也是一種特殊的差頻效應。對于有一定帶寬的飛秒激光脈沖，不同的頻率分相互作用產(chǎn)生從0到幾太赫茲的帶寬。太赫茲脈沖的整流是通過碲化鋅晶體另一個<110>方向內(nèi)自由空間電光整流產(chǎn)生的。太赫茲脈沖和可見光脈沖在碲化鋅晶體內(nèi)直線傳播時，太赫茲脈沖在碲化鋅晶體內(nèi)產(chǎn)生雙折射，這一現(xiàn)象被線偏振可見光脈沖讀出。當可見光脈沖和太赫茲脈沖同時在同一晶體內(nèi)傳播時，可見偏振光在太赫茲脈沖作用下產(chǎn)生旋光，用一個λ/4波片和一個分束偏振器以及一組平衡光電二極管，通過監(jiān)控可見光脈沖從碲化鋅晶體出射后的偏振旋轉(zhuǎn)相對于太赫茲脈沖的一組延遲時間，就可以監(jiān)測太赫茲脈沖的振幅軌跡。能夠讀出完整的電場、振幅和延遲，是時域太赫茲光譜的魅力之一。

碲化鋅也被用于紅外光學元件基板和真空沉積。我們可提供尺寸為?40x30 mm的光學元件。

注意： 碲化鋅含有微氣泡，這并不影太赫茲的產(chǎn)生，然而，它們在晶體被照明時的投影下是可見的。我們不接受關(guān)于晶體內(nèi)有氣泡的投訴。

如何訂購：ZnGeP2 (ZGP) Crystals

AgGaS2 (AGS) Crystals

AgGaS2 crystals are provided mounted into 25.4 mm diameter ring holder.

關(guān)于質(zhì)量控制實驗室:

Terahertzlabs光學的質(zhì)量控制實驗室通過使用高度專業(yè)化的設(shè)備和工藝，能夠為客戶提供高質(zhì)量的精密光學元件。質(zhì)量控制實驗室配備了防振光學平臺、層流罩和超聲波清洗機，此外還配備了一系列高精度的測量設(shè)備來進行各種各樣的測試。

光學測試:

1, Genesys-2 分光光度計：用于200-1100 nm波段透過率的精密測量；

2, EKSPLA laser spectrophotometer – 用于210-2300 nm波段透過率和反射率的精密測量，激光光  束直徑<1 mm；

3,  ESDI Intellium Z100 Fizeau Interferometer – 用633 nm波長測量面形和透過波前畸變的計算機控制科學干涉儀，標準具精度lambda/20；

4,EKSPLA NL220 laser - Nd:YAG激光器，工作波長1064、532、355和266 nm，用于晶體角切精度測量、晶體效率和方向性測試；

5,Moeller-Wedel Optical Elcomat vario140/40 Autocollimator；

6,G-5 Ganiometers – 用于測量棱鏡和楔角片角度，以及平面光學元件

的平行度和塔差；

7, Nikon Microscopes - 56-400倍放大顯微鏡，帶CCD相機，用于表面質(zhì)

量檢測；

8,Trioptics Super-Spherotronic HR Spherometer；

實驗室能力:

光學實驗室具有如下能力：

1,光學和幾何參數(shù)測量，如焦距、折射率、曲率半徑、角度和塔差，用于波長轉(zhuǎn)換（二、三次倍頻）的光軸方向測量；

2,表面質(zhì)量測量，按照MIL、ISO或DIN標準；

3, 平面度測量：波前畸變（反射和透過光束）；

4, 棱鏡和楔角片角度測量，平面元件的平行度測量；

5,材 料 和 薄 膜 鍍 膜 光 譜 測 量 ， 和 /或 角 反 射 和 透 過 率 測 量 （ 2 0 0 -2300 nm）；

6, 用ZEMAX軟件進行光學設(shè)計。

關(guān)于晶體選擇列表僅供客戶參考: